加速試驗中，HAST和HASS的區(qū)別
HAST和HALT&HASS都屬于加速試驗，加速試驗是指在保證不改變產(chǎn)品失效機理的前提下，通過強化試驗條件，使受試產(chǎn)品加速失效，以便在較短時間內(nèi)獲得必要信息，來評估產(chǎn)品在正常條件下的可靠性或壽命指標(biāo)，通過加速試驗，可迅速查明產(chǎn)品的失效原因。
何為HAST？
高度加速的溫度和濕度壓力測試（HAST）是一個高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的電子元件可靠性試驗方法。隨著進來電子技術(shù)的高速發(fā)展，幾年前剛剛出現(xiàn)的加速試驗可能不再適應(yīng)當(dāng)今的技術(shù)了，尤其是那些專門針對微電子產(chǎn)品的加速試驗。例如，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數(shù)情況下，試驗樣本在整個試驗中不發(fā)生任何失效。因此，需要進一步改進加速試驗。HAST就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發(fā)的方法。
講完這兩者的基本概念，我們接下來可以開始分析它們之間究竟有什么區(qū)別了。
HASS是一個篩選工具，HAST代替老的85℃/85%RH試驗而開發(fā)的方法。
而HAST則是傳統(tǒng)的高溫/高濕度測試（85℃/85%RH）的升級版，可以更加快速的，并且用更嚴(yán)峻惡劣的環(huán)境模擬使?jié)撛诘娜毕莼蛘咴O(shè)計薄弱環(huán)節(jié)發(fā)展為實際的失效，確認可能導(dǎo)致使用中失效的設(shè)計、分配或者制造過程問題。
HAST的加速方法只適用于零件級的試驗；HASS的加速方法只適用于設(shè)備級的試驗。
HAST和HASS的測試標(biāo)準(zhǔn)條件不同。
一、HASS Development（HASS試驗計劃階段）
二、Proof-of-Screen（計劃驗證階段）
三、Production HASS（HASS執(zhí)行階段）
HAST的測試是在指定的溫度和相對溫度下進行濕度或壓力。大氣通常具有至少100℃的溫度，在a水蒸汽加壓狀態(tài)。有飽和和HAST的不飽和品種。前者通常在121℃和100%RH的條件下完成，后者在110、120或130℃和85%RH的條件下，完成測試電子元件的通電通常是不飽和類型。
HAST和HASS的試驗設(shè)備要求不同。
KM-HAST高加速溫度和濕度壓力測試箱
1、內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計，可防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過2、熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。
3、采用高效真空泵，使箱內(nèi)達到最佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
4、采用7寸真彩式觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。
5、汽車級硅膠整體密封條，氣密性好，耐用。
6、全自動補水功能，前置式水位確認。
7、采用干濕球傳感器直接測量（控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式）
HASS試驗設(shè)備要求
快速的溫變速率，產(chǎn)品的溫度變率可達到60℃/min。
溫度操作范圍為-100℃～+200℃。
2、反復(fù)沖擊式振動
三軸和轉(zhuǎn)向同時施力，同時要達成三軸（X、Y、Z）旋轉(zhuǎn)（轉(zhuǎn)、拋、偏），能快速講設(shè)計缺陷顯示出來。
涵蓋頻率范圍廣（2-10KHz）。
3、復(fù)合應(yīng)力環(huán)境
溫度和振動。
4、低環(huán)境噪音
＜73dba。
