科明新品--HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)
HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)
HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)·簡稱HAST,產(chǎn)品滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）二極管、三極管、場效應(yīng)管和可控硅等半導(dǎo)體分立器件,車規(guī)級(jí)芯片的高壓高濕加速老化試驗(yàn)，滿足GB/T2423.40-1997,IEC60068,JESD22試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī) 型號(hào)HAST-35
測試目的：
HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)是針對(duì)非氣密性封裝器件，主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)常用試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.40 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2:66
JESD22-A110D
AEC Q101
JIS C0096-2
其中
1. GB/T 2423.40里面詳細(xì)闡述了對(duì)進(jìn)行HAST試驗(yàn)的試驗(yàn)箱的具體要求,如升降溫的時(shí)間、試驗(yàn)箱對(duì)溫濕度的精度控制要求等。
2. JSD22-A110D詳細(xì)闡述了HAST試驗(yàn)的方法，如建議的試驗(yàn)條件(如130°C85%RH)、產(chǎn)品Bias如何施加等，另外也對(duì)HAST的失效機(jī)理進(jìn)行了說明。
3. AECQ101明確了汽車電子行業(yè)對(duì)HAST的具體要求。
4. GB/T 2423.40試驗(yàn)方法（如下）。
溫度℃ | 相對(duì)濕度% | 持續(xù)時(shí)間/h | ||
Ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | ||
110 | 85 | 96 | 192 | 408 |
120 | 85 | 48 | 96 | 192 |
130 | 85 | 24 | 48 | 96 |
除非相關(guān)規(guī)范另有規(guī)定，應(yīng)使用本表的溫度和持續(xù)時(shí)間的組合之一。每一種溫度都規(guī)定了三種持續(xù)時(shí)間。在110℃、120℃和130℃時(shí)，試驗(yàn)機(jī)應(yīng)維持蒸汽壓力分別約為0.12Mpa、0.17Mpa和0.23Mpa。 | ||||
試驗(yàn)箱工作空間的溫度容差為士2℃; 試驗(yàn)箱工作空間的濕度容差為士5%R.H; 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的容差為0h~+2 h。 | ||||
產(chǎn)品性能指標(biāo):
設(shè)定溫度: +105 ℃ ～ +142 ℃( 飽和蒸氣溫度 )
濕度范圍: 65 % -100 %蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度：±1%RH
使用壓力: 0.05~0.32Mpa
溫度波動(dòng)度 : ±0.5℃
溫度顯示精度：0.1℃
濕度波動(dòng)度：±2.5%RH
容積大小：35L
